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SD-300i用于測(cè)定藍(lán)寶石的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺(tái)半自動(dòng)高精度定向儀，實(shí)現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。

藍(lán)寶石晶片表面缺陷測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)：
■ 缺陷和定向雙功能
■ 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護(hù)罩，確保安全使用
■ 表格和曲線的形式顯示，一目了然
■ 速度快，重復(fù)性好
■ 效率高，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理

藍(lán)寶石晶片表面缺陷測(cè)試儀-技術(shù)參數(shù)：
■ 測(cè)試時(shí)間：1-2分鐘
■ 重復(fù)性精度：≤±5″。
■ 測(cè)角精度為±15″
■ 最小讀數(shù)1″

藍(lán)寶石晶片表面缺陷測(cè)試儀-典型客戶:
臺(tái)灣及國內(nèi)藍(lán)寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。