- 硅料與硅片品質(zhì)提升解決方案
- 電池片與組件品質(zhì)提升解決方案
- 太陽能電站品質(zhì)提升解決方案
- 藍寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
- 耗材輔料品質(zhì)提升解決方案
- Newsletter
藍寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案 >> 表面油污解決方案 >> 晶體表面油污檢測及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測原理決定的。有污染的晶片若被應(yīng)用的外延，就會嚴重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個專業(yè)的設(shè)備進行探測與判斷。
合能陽光提供SQM-500W表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)用于對樣品表面清潔質(zhì)量進行檢測與分析。
SQM系列產(chǎn)品的重大突破是首次提供表面清潔度的定量分析。可以對各種表面上的污染進行非接觸無損傷的快速準確的測量。結(jié)果能夠為優(yōu)化表面清潔工藝提供真實可靠的分析，為產(chǎn)品品質(zhì)提供有力可信的保證，是公司利潤和信譽提供必不可少的保障。
版權(quán)所有：2008-2050合能陽光 京ICP備18015141號-1